Development of Radiation Reliability Test Platform for Key Electronics Components

全球金融、電信、交通、氣象、國防、航空和許多其他應用都越來越依賴衛星服務。 隨著這些應用的不斷擴展，衛星的數量正迅速增加，其成本必須降低。因此，為數眾多的小型衛星正在使用更多的商業級現有電子元件。商業現成的（COTS）電子元件通常對輻射影響更敏感。另外，對於小型衛星，屏蔽電子元件的結構厚度較小。隨著IC製程演進和更薄的氧化層，元件對總游離劑量效應(TID)輻射效應的敏感性會降低，TID限值也會提高。另一方面，單事件效應(SEEs)發生機率隨著IC製程的縮小而增加。產生SET和SEU所需的閾值能量更少。 本計畫的主要目的為對商業級現有電子元件的輻射可靠性評估。 今天的航太業者要在體積小、功率低的和成本低的小型衛星中使用商業級現有電子元件來滿足高水準的性能。關鍵問題是確定可靠度和成本之間的適當平衡。要求的測試越多，單位成本就越高。 衛星工業和電子設備製造商目前面臨的挑戰是為太空應用中使用的商業級現有電子元件確定最佳測試水準與成本。 在計畫的第一年，我們將開發可靠度評估方法和平臺。我們首先將探討輻射導致的各種失效機制，專注於在臺灣設計和製造的關鍵電子元件，以幫助本土產業進入太空市場。德州儀器(Texas Instrument , TI)和類比設備(Analog Devices, AD)等國際知名公司的元件也將被作為參考進行研究，特別是微控制器和電源元件，這些元件是衛星運行的關鍵，也更容易受到輻射的影響。確保測試期間的輻射源品質也是關鍵，包含對劑量計的選擇。最後，我們將對失效退化的設備進行詳細的失效分析，以瞭解與輻射損傷有關的失效機制。

Project ID:PG11207-0033
External Project ID:112A009