研究計畫-專案詳細資料
摘要
產品或流程的特性值可能是一個二元線性剖面。為了管制這種產品或流程,我們必須不 時的去了解和評估他們的二元線性剖面以確保其品質。很多學者積極投入這方面的研 究,通常這方面的研究是在每一個時間點去收集一組二元迴歸數據,做出一組或一個相 關於截距、斜率、標準差的統計量,來評估流程或產品。有些學者使用參數函數的T2 統計量,有些使用EWMA的T2統計量,Shang, Tsung and Zou (2011)找到一個表現不 錯的EWMA的T2統計量,只是這個新的作法使用的資料包含這個時間點以前的所有資 料,就實用性來看是不可取的。在這個計畫,我們希望找到一個表現比傳統EWMA好且 不需那麼複雜的估算的方法,來管控這方面產品或流程。
Project IDs
系統編號:PA10207-0409
原計畫編號:NSC102-2118-M182-001
原計畫編號:NSC102-2118-M182-001
狀態 | 已完成 |
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有效的開始/結束日期 | 01/08/13 → 31/07/14 |
Keywords
- 數學
- 管理科學
指紋
探索此研究計畫-專案觸及的研究主題。這些標籤是根據基礎獎勵/補助款而產生。共同形成了獨特的指紋。