跳至主導覽 跳至搜尋 跳過主要內容

高介電常數的三氧化二鉺介電層應用銦鎵鋅氧化物薄膜電晶體與記憶體之電性與可靠度研究

研究計畫: 國家科學及技術委員會(原科技部) 國家科學及技術委員會學術補助

研究計畫-專案詳細資料

Project IDs

系統編號:PB10207-1920
原計畫編號:NSC102-2221-E182-072-MY3
狀態已完成
有效的開始/結束日期01/08/1331/07/14

Keywords

  • 電子電機工程

指紋

探索此研究計畫-專案觸及的研究主題。這些標籤是根據基礎獎勵/補助款而產生。共同形成了獨特的指紋。