研究計畫-專案詳細資料
摘要
扭轉向列式液晶元件為目前應用於視訊顯示的關鍵光電元件，液晶顯示器的成像品質與效能和扭轉向列式液晶的元件參數值有很大的相關性。目前量測液晶元件參數值的方法受限於量測技術，大多只能達到單點量測，為了有效評估液晶顯示器的整體效能，必需發展出能夠二維量測扭轉向列式液晶元件參數的量測技術。本研究計劃擬發展出一個可以快速分析扭轉向列型液晶的各項特性的量測系統。本研究計劃所提出的方法係透過單式光學系統的等效性定理推導出所量測的出射光強度分佈與 TNLCD的光學參數之間的解析函數關係。除了可以量測到扭轉向列液晶元件的單元間隙，預傾角，扭向角以及液晶層相位延遲等元件參數的二維分佈之外，同時亦可以分析等效的雙折射性質以及在液晶層內傳播的特徵偏振態。本方法具有多重參數量測的能力，除此之外，此量測系統的光學架設非常簡單且易於操作，因此未來將可實際應用於液晶元件製造廠做為檢測平台。
Project IDs
系統編號:PB10207-1804
原計畫編號:NSC102-2221-E182-064
原計畫編號:NSC102-2221-E182-064
| 狀態 | 已完成 |
|---|---|
| 有效的開始/結束日期 | 01/08/13 → 31/07/14 |
Keywords
- 光電工程
- 液晶
- 偏振光
- 單式光學系統的等效性定理
- 雙折射
- 極化儀
指紋
探索此研究計畫-專案觸及的研究主題。這些標籤是根據基礎獎勵/補助款而產生。共同形成了獨特的指紋。