極化光子對密度波在多重散射介質中對小體積非均勻物體之微擾理論模型建立及表面效應的實驗量測

  • Chou, Chien I. (PI)
  • Wu, Yu Te (CoPI)

研究計畫: 國家科學及技術委員會(原科技部) 國家科學及技術委員會學術補助

研究計畫-專案詳細資料

摘要

傳統的擴散光密度波理論(diffuse photon density wave, DPDW)在多重散射介質中成像的空間解析度還原影像只能達到5mm,無法滿臨床醫師在早期診斷上的需求。主要是擴散方程式中忽略了描述物體表面效應( D)這一項而造成。本研究計畫第一年建立以擴散光子對密度波 DPPDW 的微擾動理論模型,同時由微擾動理論推導出非均勻小體積成像物體(total surface/volume>1)在多重散射介質中的表面效應(surface effect),同時亦要進行電腦運算模擬。第二年再利用偏極化光子對外差干涉量測系統對多重散射介質中的成像物體(直徑2mm)的表面效應掃描。藉以驗證其理論模型正確性。第三年建立以擴散光子對密度波(diffuse photon-pairs density wave, DPPDW)為主的影像還原方法在多重散射介質中進行影像還原,以提高空間解析度為目的。

Project IDs

系統編號:PB9902-1124
原計畫編號:NSC98-2221-E182-063-MY3
狀態已完成
有效的開始/結束日期01/08/1031/07/11

Keywords

  • 光電工程

指紋

探索此研究計畫-專案觸及的研究主題。這些標籤是根據基礎獎勵/補助款而產生。共同形成了獨特的指紋。