電漿子奈米結構與入射光作用產生的光力流線對奈米粒子之光漩渦捕捉(II)

研究計畫: 國家科學及技術委員會(原科技部) 國家科學及技術委員會學術補助

研究計畫-專案詳細資料

摘要

電漿子奈米聚體結構與入射光作用所產生之光漩渦的局部範圍可甚小於光波的繞射極限,能精確捕捉陣列周遭的奈米粒子,局限於特定位置,進行物理/化學的操控。與微流道晶片結合,可檢測懸浮的奈米粒子,例如先進半導體濕式製程中清洗或蝕刻液中稀疏懸浮奈米粒子的檢測。也可應用於空氣中PM2.5及氣凝膠的濃度檢測。

Project IDs

系統編號:PB11007-3413
原計畫編號:MOST110-2221-E182-038-MY2
狀態已完成
有效的開始/結束日期01/08/2131/07/22

Keywords

  • 光電工程
  • 光漩渦
  • 光力學
  • 光力捕捉
  • 光力矩
  • 電漿子
  • 馬斯威爾應力張量
  • 坡印廷向量
  • 聚體
  • 光力流線
  • 非接觸模態捕捉
  • 布朗運動

指紋

探索此研究計畫-專案觸及的研究主題。這些標籤是根據基礎獎勵/補助款而產生。共同形成了獨特的指紋。