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線性剖面的管制研究

  • Wang, Pe-Cheng (PI)

研究計畫: 國家科學及技術委員會(原科技部) 國家科學及技術委員會學術補助

研究計畫-專案詳細資料

摘要

產品或流程的特性值可能是一個線性剖面。為了管制這種產品或流程,我們必須不時的去了解和評估他們的線性剖面以確保其品質。很多學者積極投入這方面的研究,通常這方面的研究是再每一個時間去收集一組固定X的廻歸數據,做出一組或一個相關於截距、斜率、標準差的統計量,來評估這個時間產品或流程的表現。在這個計畫,我們企圖發現另外一個簡單實用的方法,來管控這方面產品或流程。發現方法以後,我們將與現有的方法以模擬的方法來做比較,並將其運用在一個實例上。

Project IDs

系統編號:PF10007-1562
原計畫編號:NSC100-2118-M182-001
狀態已完成
有效的開始/結束日期01/08/1131/07/12

Keywords

  • 統計學
  • 線性剖面
  • 管制圖
  • 模擬

指紋

探索此研究計畫-專案觸及的研究主題。這些標籤是根據基礎獎勵/補助款而產生。共同形成了獨特的指紋。