研究計畫-專案詳細資料
摘要
垂直於發光二極體磊晶結構的一維熱流模型，可由傅立葉熱傳導公式來描述，並利用適合發光二極體的邊界特性，即可於室溫量測中獲得元件之熱傳導係數、熱容、發光效能、元件封裝之熱阻等。然而元件中的熱皆透過聲子來傳遞，在傳遞的過程中，聲子會因為磊晶結構上的微結構或是異質介面中的缺陷等，產生散射的行為，形成額外的熱阻，特別是氮化物發光二極體，基於磊晶基板的晶格限制，許多缺陷會於形成於介面處，因此很容易會有接面熱阻的產生。本研究之目的在於觀察氮化物發光二極體中，磊晶層與基板間的缺陷，以及四元發光二極體中布拉格反射鏡等介面熱阻，透過了解其形成原因，然後由磊晶層的結構開始改善元件散熱，進而得到在不同情況下的熱阻差異。本計畫創新的特色為：1.透過純電性量測來估算介面熱阻的大小，如：基板與磊晶層中晶格不匹配的缺陷密度造成的熱阻。2.利用暫態光譜的觀測，得到布拉格反射鏡兩側的溫度差異來估算。因此，未來不僅能成為高功率二極體發展研究之有力工具，從學術研究角度來看，本研究能更進一步的觀察磊晶層中各項微結構如：布拉格反射鏡或是多重量子井等微結構對於聲子傳遞的影響，對於奈米科學亦或是固態物理等，亦提供一個新的研究方向與方法。
Project IDs
系統編號:PB9807-2590
原計畫編號:NSC98-2221-E182-005
原計畫編號:NSC98-2221-E182-005
| 狀態 | 已完成 |
|---|---|
| 有效的開始/結束日期 | 01/08/09 → 31/07/10 |
Keywords
- 光電工程
指紋
探索此研究計畫-專案觸及的研究主題。這些標籤是根據基礎獎勵/補助款而產生。共同形成了獨特的指紋。