非對稱性雙埠和三埠元件之TRL校正法(II)

由於行動電話和無線網路的廣泛使用，以印刷電路板製作之微波電路也越來越普遍。要獲得微波電路之S 參數，通常需使用向量網路分析儀，因此必須使用轉接器將網路分析儀與電路板連接。當頻率越高，轉換器的效能變得越差並會影響測量的結果。為能測得線路的真正特性，必須使用TRL 校正技術。經由測量穿透、反射和線性校正線路所得資料，即可有效算出測試中電路的的真正S 參數。然而，TRL 技術的公式存有一項先天的基本限制：那就是兩個連接埠必須是相同的。因此像是阻抗轉換器和微帶線至共平面波導轉接是無法藉由TRL 技術導出的。要克服這項限制，我們提出一經改良後的TRL 程序，以測量擁有非對稱連接埠的雙埠微波電路。此項技術的特點是針對非對稱雙埠之兩個不同連接埠，重複兩次運用原有TRL 技術。然後，該非對稱雙連接埠設備的真正S 參數，即可從獲得的兩組誤差矩陣中導出。在第一年的提案中，首先推導原TRL 校正法的詳細公式，然後應用在此改良式TRL 校正程序上。初步的結果顯示，應用在微帶線至矩形波導管轉接上，可獲得不錯的成果。最後利用前面的公式，我們也提出以二埠TRL 校正法量測三埠元件之方法。第一年的計畫中，我們發現原先的量測三埠元件的方法只能用於有兩個埠是對稱的情況下。因此在此第二年的計畫，我們提出一可用二埠TRL 校正量測任意的三埠元件之方法。同時更進而提出可用於對稱四埠元件之量測法。

系統編號:PB9912-1049
原計畫編號:NSC99-2221-E182-067