一種光學式超音波觀測裝置

研究成果: 專利

摘要

本發明揭露一種光學式超音波觀測裝置，藉以觀察紋影並提高超音波量測的性能。本發明之光學式聲場量測裝置包含連續雷射光源、光學透鏡、水箱、空間濾波器及電荷耦合元件檢測器，電腦等元件所組合而成。本發明可有效提供生物應用或工業應用上之超音波波傳播以及分佈變化的重要訊息。

貢獻的翻譯標題	THE SCHLIEREN TYPE ULTRASONIC WAVE OBSERVER SYSTEM
原文	繁體中文
IPC	G01N 21/45(2006.01); G01N 29/02(2006.01)
出版狀態	已出版 - 21 09 2013

公開公告號: 2.01219772E8
Announcement ID: 2.01219772E8

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TY - PAT

T1 - 一種光學式超音波觀測裝置

AU - Liu, Hao-Li

AU - KUNG, CHUNG-CHENG

AU - CHANG, TING-CHIA

N1 - 公開公告號: 2.01219772E8 Announcement ID: 2.01219772E8

PY - 2013/9/21

Y1 - 2013/9/21

N2 - 本發明揭露一種光學式超音波觀測裝置，藉以觀察紋影並提高超音波量測的性能。本發明之光學式聲場量測裝置包含連續雷射光源、光學透鏡、水箱、空間濾波器及電荷耦合元件檢測器，電腦等元件所組合而成。本發明可有效提供生物應用或工業應用上之超音波波傳播以及分佈變化的重要訊息。

AB - 本發明揭露一種光學式超音波觀測裝置，藉以觀察紋影並提高超音波量測的性能。本發明之光學式聲場量測裝置包含連續雷射光源、光學透鏡、水箱、空間濾波器及電荷耦合元件檢測器，電腦等元件所組合而成。本發明可有效提供生物應用或工業應用上之超音波波傳播以及分佈變化的重要訊息。

M3 - 專利

ER -