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具多層薄膜結構之表面電漿共振檢測系統

  • Nai-Chuan Chen (Inventor)
  • , BO-REN HUANG (Inventor)
  • , WEN-ZHENG KE (Inventor)
  • , CHONG-JI LIAO (Inventor)
  • , JUN-YI LV (Inventor)

研究成果: 專利

摘要

一種具多層薄膜結構之表面電漿共振檢測系統,包含一入射光源、一菱鏡、一光偵測器、一基板及一多層薄膜結構,該多層薄膜結構包括一上金屬層、一介電層及一下金屬層,利用該介電層與上、下金屬層二介面表面電漿之耦合效應,改變下層金屬表面與待測介質間的表面電漿特性,大幅提高下層金屬感測面之SPR靈敏度,即時偵測待測介質非常微細之濃度變化或化學反應,並可依不同待測物,藉由調整結構參數,得到對特定待測物之最佳感測靈敏度,應用於多種感測環境,有效解決當前SPR感測靈敏度不足與應用受限之問題。
貢獻的翻譯標題Surface plasma resonance detection system with multi-layer thin film structure
原文繁體中文
專利號I481855
IPCG01N 21/55(2014.01)
出版狀態已出版 - 21 04 2015

文獻附註

公開公告號: I481855
Announcement ID: I481855

指紋

深入研究「具多層薄膜結構之表面電漿共振檢測系統」主題。共同形成了獨特的指紋。

引用此