摘要
一種具多層薄膜結構之表面電漿共振檢測系統,包含一入射光源、一菱鏡、一光偵測器、一基板及一多層薄膜結構,該多層薄膜結構包括一上金屬層、一介電層及一下金屬層,利用該介電層與上、下金屬層二介面表面電漿之耦合效應,改變下層金屬表面與待測介質間的表面電漿特性,大幅提高下層金屬感測面之SPR靈敏度,即時偵測待測介質非常微細之濃度變化或化學反應,並可依不同待測物,藉由調整結構參數,得到對特定待測物之最佳感測靈敏度,應用於多種感測環境,有效解決當前SPR感測靈敏度不足與應用受限之問題。
| 貢獻的翻譯標題 | Surface plasma resonance detection system with multi-layer thin film structure |
|---|---|
| 原文 | 繁體中文 |
| 專利號 | I481855 |
| IPC | G01N 21/55(2014.01) |
| 出版狀態 | 已出版 - 21 04 2015 |
文獻附註
公開公告號: I481855Announcement ID: I481855
指紋
深入研究「具多層薄膜結構之表面電漿共振檢測系統」主題。共同形成了獨特的指紋。引用此
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