奈米粒子控制量測系統及其運作方法

本發明提供了一種奈米粒子控制量測系統及其運作方法。本發明於同一個裝置中達到同時可以操控及測量奈米粒子的功效，該裝置主要包含一第一透明電極、一光導電層、沿著該光導電層周緣設置的一隔間元件以及一第二透明電極。該裝置透過對透明電極的直流／交流偏壓轉換以及直流／交流光源的應用，達到可於同一個系統中操控及測量奈米粒子的功效。