| 貢獻的翻譯標題 | Defect inspection and thickness measurement of conducting glass with optical coherence tomography |
|---|---|
| 原文 | 繁體中文 |
| 監督員/顧問 |
|
| 出版狀態 | 已出版 - 2012 |
| 對外發佈 | 是 |
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- Vancouver
應用光學同調斷層掃描技術於導電玻璃瑕疵檢測及奈米厚度量測
- 黃國恩
研究成果: 論文類型 › 碩士論文
研究成果: 論文類型 › 碩士論文
| 貢獻的翻譯標題 | Defect inspection and thickness measurement of conducting glass with optical coherence tomography |
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| 原文 | 繁體中文 |
| 監督員/顧問 |
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| 出版狀態 | 已出版 - 2012 |
| 對外發佈 | 是 |