| 貢獻的翻譯標題 | Reliability Investigation in Novel Enhancement-Mode p-GaN Gate HEMTs |
|---|---|
| 原文 | 繁體中文 |
| 監督員/顧問 |
|
| 出版狀態 | 已出版 - 2020 |
| 對外發佈 | 是 |
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新型p型閘極增強型氮化鎵高電子遷移率電晶體元件研製及其可靠度之研究
- 邱繼詮
研究成果: 論文類型 › 碩士論文
研究成果: 論文類型 › 碩士論文
| 貢獻的翻譯標題 | Reliability Investigation in Novel Enhancement-Mode p-GaN Gate HEMTs |
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| 原文 | 繁體中文 |
| 監督員/顧問 |
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| 出版狀態 | 已出版 - 2020 |
| 對外發佈 | 是 |