表面電漿共振量測系統

YU-YING LEE (Inventor), Kou-Chen Liu (Inventor), BRILIANT ADHI PRABOWO (Inventor)

研究成果: 專利

摘要

本發明係提供一種表面電漿共振量測系統,其包含:一有機發光二極體光源,提供一入射光;一稜鏡,具有一入射面、一反射面與一出射面,入射光入射至入射面;一偏光膜,設置於出光面或入射面,以調整入射光之偏振角度;一感測晶片,設置於反射面,並與至少一待測物接觸,感測晶片與待測物接觸之部分形成一偵測區,偵測區則依據待測物將入射光反射為一反射光;以及一偵測器,用以偵測反射光。如此,本發明利用有機發光二極體作為激發光源,並利用薄型之偏光膜取代傳統偏光片,以達到減少整體表面電漿共振系統體積之目的。
貢獻的翻譯標題Surface plasmon resonance measurement system
原文繁體中文
IPCG01N 21/55(2014.01)
出版狀態已出版 - 01 10 2014

文獻附註

公開公告號: 2.01437627E8
Announcement ID: 2.01437627E8

指紋

深入研究「表面電漿共振量測系統」主題。共同形成了獨特的指紋。

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