高電子遷移率電晶體磊晶片之快速量測模型

喬嘉逵

研究成果: 論文類型 › 碩士論文

貢獻的翻譯標題	Quick Test Model for Characterizing HEMT Epitaxial Wafers
原文	繁體中文
監督員/顧問	Chen, Nai-Chuan, 指導教授
出版狀態	已出版 - 2015
對外發佈	是

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