Characteristics of PBTI and hot carrier stress for LTPS-TFT with high-κ gate dielectric

Ming Wen Ma*, Chih Yang Chen, Chun Jung Su, Woei Cherng Wu, Yi Hong Wu, Kuo Hsing Kao, Tien Sheng Chao, Tan Fu Lei

*此作品的通信作者

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19 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Characteristics of PBTI and hot carrier stress for LTPS-TFT with high-κ gate dielectric」主題。共同形成了獨特的指紋。

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