Characteristics of PBTI and hot carrier stress for LTPS-TFT with high-κ gate dielectric
- Ming Wen Ma*
- , Chih Yang Chen
- , Chun Jung Su
- , Woei Cherng Wu
- , Yi Hong Wu
- , Kuo Hsing Kao
- , Tien Sheng Chao
- , Tan Fu Lei
*此作品的通信作者
研究成果: 期刊稿件 › 文章 › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）