Correlating the Density of Trap-States and the Field-Effect Performance in Metal-Oxide Thin-Film Transistors with High-κ Gate Dielectrics via a Trap-Limited Conduction Method
- Mochamad Januar
- , Chun Wen Cheng
- , Wen Kai Lin
- , Vito Vito
- , Meng Chyi Wu
- , Shu Tong Chang
- , Kou Chen Liu*
*此作品的通信作者
研究成果: 期刊稿件 › 文章 › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）