Gate capacitance effect on P-type tunnel thin-film transistor with TiN/HfZrO2 gate stack

William Cheng Yu Ma*, Ming Jhe Li, Shen Ming Luo, Jiun Hung Lin, Cai Jia Tsai

*此作品的通信作者

研究成果: 期刊稿件 › 文章 › 同行評審

2 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Gate capacitance effect on P-type tunnel thin-film transistor with TiN/HfZrO2 gate stack」主題。共同形成了獨特的指紋。

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