Gate Leakage Effect in AlGaN/GaN HEMT with Negative Bias Stress

研究成果: 會議稿件的類型 › 會議論文

原文	美式英語
出版狀態	已出版 - 2012
事件	International Conference on Electrical Engineering & Computer - Dhaka, Bangladesh 持續時間: 01 03 2012 → 01 03 2012

Conference	International Conference on Electrical Engineering & Computer
期間	01/03/12 → 01/03/12

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