HfOx thin films for resistive memory device by use of atomic layer deposition

Pang Shiu Chen*, Heng Yuan Lee, Ching Chiun Wang, Ming Jinn Tsai, Kou Chen Liu

*此作品的通信作者

研究成果: 圖書/報告稿件的類型會議稿件同行評審

2 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「HfOx thin films for resistive memory device by use of atomic layer deposition」主題。共同形成了獨特的指紋。

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