Metal-oxide-high- k -oxide-silicon memory structure using an Yb 2O3 charge trapping layer

Tung Ming Pan*, Jing Wei Chen

*此作品的通信作者

研究成果: 期刊稿件 › 文章 › 同行評審

24 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Metal-oxide-high- k -oxide-silicon memory structure using an Yb 2O3 charge trapping layer」主題。共同形成了獨特的指紋。

Material Science

Chemistry

Biochemistry, Genetics and Molecular Biology