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學者概覽
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Spatially mapping work function changes and defect evolution in the fluorination of graphene
Bin Leong Ong
, Sheau Wei Ong
, Bo Liu
, Chao Sung Lai
, Harman Johll
, Hway Chuan Kang
, Eng Soon Tok
電子工程學系(含學碩博士班)
National University of Singapore
Chang Gung University
National Junior College
研究成果
:
圖書/報告稿件的類型
›
會議稿件
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Spatially mapping work function changes and defect evolution in the fluorination of graphene」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Chemistry
Graphene
100%
Fluorination
100%
Work Function
100%
Surface
42%
Time
42%
Fluorine
42%
Concentration
28%
Particle Size
28%
Electron Particle
14%
Aggregation
14%
Chemical Bond
14%
Shape
14%
Atomic Force Microscopy
14%
Carbon
14%
Kelvin Probe Force Microscopy
14%
Engineering
Defects
100%
Mapping
100%
Surface Morphology
28%
Surfaces
14%
High Concentration
14%
Measurer
14%
Potential Difference
14%
Giving Rise
14%
Electron System
14%
Material Science
Graphene
100%
Surface Morphology
28%
Surface
14%
Microscopy
14%
Probe
14%