The jump-to-contact distance in atomic force microscopy measurement

Jiunn Jong Wu*

*此作品的通信作者

研究成果: 期刊稿件 › 文章 › 同行評審

31 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「The jump-to-contact distance in atomic force microscopy measurement」主題。共同形成了獨特的指紋。

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