Useful lifetime of white OLED under a constant stress accelerated life testing

Fu Kwun Wang*, Yi Chen Lu

*此作品的通信作者

研究成果: 期刊稿件文章同行評審

9 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Useful lifetime of white OLED under a constant stress accelerated life testing」主題。共同形成了獨特的指紋。

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