| 貢獻的翻譯標題 | Application of VCSEL Reliability Evaluation Models and Analysis of Measured Long-Term Optoelectronic Characteristics of VCSELs |
|---|---|
| 原文 | 繁體中文 |
| 監督員/顧問 |
|
| 出版狀態 | 已出版 - 2025 |
| 對外發佈 | 是 |
引用此
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver
VCSEL可靠度評估模型之應用及其長期光電特性之量測分析
- 林靖恩
研究成果: 論文類型 › 碩士論文